椭圆偏振仪
光学特性
光学常数（n，k）可以在190到2100nm之间的宽光谱范围进行测量，具体取决于使用的椭圆偏振光谱仪型号。
透明和半透明薄膜的光学常数（n，k）
均匀薄膜展示了一组光学常数
吸收系数
吸收系数(a)由下列关系式简单表示:
体基底(固体和液体)的光学常数（n，k）
椭圆偏振法是可以通过简单测量提供体基底光学常数的唯一技术。通常的体基底包括c-Si, GaAs的半导体材料、如Al, Pt的金属以及玻璃、蓝宝石和塑料。测量液体时需使用液体池。
梯度薄膜的光学常数 (n,k)
梯度薄膜展示了整层光学常数的变化。该层底部的一组光学常数值(n,k)和顶部的另一组值被确定。
各向异性薄膜的光学常数 (n,k)
单轴各向异性薄膜展示了两组不同的光学常数，通常叫作ne(非常光)和no (寻常光)。对于单轴各向异性的薄膜，三组不同的光学常数，nx,ny,nz 和 kx,ky,kz被测量。
光学带隙(Eg)
精确测量光学常数的能力可以测定光学带隙(Eg)。它是表征半导体和高k材料的重要物理特性。光学带隙值可以通过软件中的Tauc-plot计算或作为色散公式的计算参量。
不同合金组分的光学常数偏移
不断增加的Al 增加了光学带隙,将吸收边向高能量区推移。如图所示，AlxGa1-xAs合金光学参数随着组分从x=0向x=1变化而变化。
光学常数强烈依赖材料结晶度
无定型、多晶和单晶硅展示了完全不同的光学常数。
反射率和透射率
R和T能够由椭圆偏振光谱仪测量。它还可以通过DeltaPsi2软件模拟一个已经分析过的样品的反射率和透射率。