光致发光（PL）是一种可以提供半导体材料的电学、光学属性信息的光谱技术，包括带隙、发光波长、结晶度和晶体结构以及缺陷信息等等……

PL显微镜是一种基于激光的仪器，利用能量超过材料带隙宽度的光源激发样品，测量材料的发光辐射特性。

HORIBA Scientific公司的显微PL成像系统用来绘图表征小尺度半导体材料的一些属性，例如二极管、Gallium Nitride (GaN) 或者 Si纳米线, 碳纳米管 碳纳米管等半导体材料或纳米结构。

因为PL显微系统是基于HORIBA Scientific先进的拉曼光谱系统建立的，所以在同一仪器上也能够进行拉曼研究。

此处提供的数据显示出二极管结构不同区域的光谱，拉曼光谱提供了不同元素的化学剂量学信息，而光致发光光谱则给出了其发光波长以及其它光学和电学属性的信息。

两种技术在同一仪器上的联用能够提供更多信息，从而达到对元件特性的更深层次的认识。