X 射线荧光(XRF)是一种非破坏性元素分析技术，通过检测材料受激发后释放的荧光 X 射线信号，可识别材料所含元素种类并测定各元素的浓度含量。

在 X 射线荧光（XRF）分析仪中，能量色散型 X 射线荧光（EDXRF）分析仪因其无损检测、多元素同时分析、样品制备简单及测量时间短等特点，更适用于各类样品的筛选分析。

HORIBA 自 1956 年起便拥有悠久的 X 射线技术研发历史，我们持续开发基于能量色散法的 XRF 分析仪。HORIBA XRF 分析仪已广泛应用于多个领域：在燃料电池、锂离子电池、制药及其他工业领域中用于异物检测和新材料研发；同时在天体地质学、考古学、法医学等研究领域对珍贵样本进行无损分析。