Espectrometría Atómica
Instrumentos
El GD-Profiler 2™ proporciona un análisis rápido simultáneo de todos los elementos de interés incluyendo Na, Li, H, (Deuterio posible), O, Cl. Es la herramienta ideal para la caracterización de capas delgadas y los estudios de proceso.
El GD-Profiler™ HR de HORIBA Jobin Yvon proporciona el grado óptimo en términos de resolución óptica y número de elementos para solucionar problemas analíticos en las matrices más complejas.
Plasma Profiling TOFMS™ - Descubra un mundo completamente nuevo lleno de información
Esta nueva instrumentación combina la velocidad de arrancado de un plasma de GD con la rapidez y la sensibilidad de un espectrómetro de Masa de tiempo de vuelo. Tras la realización de una fase de investigación mediante un proyecto de la UE(www.emdpa.eu), el instrumento estará disponible a la venta a partir de 2012. Unos prototipos están ya disponibles en HORIBA Jobin Yvon para evaluación y demostración.
El Plasma Profiling TOFMS ofrece una sensibilidad mayor que la de un GD OES (óptico) y además proporciona perfiles isotópicos y moleculares.
3D Metal™ con tecnología CCD
Dedicado a la industria del metal, puede realizar análisis elemental de metales y perfiles de profundidad de capas gruesas (tratamientos térmicos, recubrimientos de Zinc o electrolíticos). El 3D Metal estará disponible a finales de 2011 pero unas pre-series están ya disponibles en HORIBA Jobin Yvon para pruebas y se exhibirá un instrumento en la GIFA .