Instrumentation SDL RF pulsée (RF GDOES)

Les instruments SDL RF pulsée (pulsed RF GDOES) d’HORIBA Scientific ont des caractéristiques uniques protégées par de multiples brevets qui en font des outils de caractérisation très précieux pour la recherche et l'élaboration de matériaux.

La source RF pulsée (avec accord automatique d’impédance même en mode pulsé – brevet) permet de mesurer tous les types d'échantillons solides, conducteurs ou non, même fragiles ou sensibles à la chaleur avec des performances optimales.

Les détecteurs brevetés haute dynamique (HDD) permettent en temps réel, l’optimisation automatique de la sensibilité pour analyser un même élément à l'état de trace dans une couche et qui devient un majeur dans une deuxième couche sans compromis ni besoin de pré-réglage.