GD-Profiler 2™

Vue d'ensemble

Le GD-Profiler 2™ permet l’analyse simultanée de tous les éléments y compris les gaz (azote, oxygène, chlore, hydrogène). Il est l’outil idéal pour la caractérisation des surfaces, des couches minces, des dépôts et le suivi de productions.

Equipé d’une source Radio Fréquence qui peut fonctionner en mode pulsé pour des échantillons fragiles, la gamme d’applications du GD-Profiler 2 s’étend de l’étude des mécanismes de corrosions au contrôle de dépôts PVD. Il est utilisé aussi bien dans les universités que dans des sites de production d’alliages métalliques.

Fonctions

  • Le générateur RF de Classe E est immédiatement stable permettant des mesures d'extrême surface.

  • La source peut être pulsée avec une acquisition synchronisée pour des résultats optimum sur des échantillons fragiles. L'utilisation d'une source RF permet l'analyse de couches de matériaux conventionnels ou non conventionnels.

  • L'optique simultanée offre une gamme spectrale de 110 à 800 nm, incluant l'analyse dans l'UV lointain de H, O, C, N et Cl.

  • Les réseaux holographiques blazés ioniquement HORIBA Jobin Yvon, assurent un rendement lumineux optimum pour un maximum d'efficacité et sensibilité.

  • La détection HDD® brevetée procure vitesse et sensibilité de détection sans compromis.

  • Le compartiment échantillon est large et facile d'accès pour placer l'échantillon.

  • Le logiciel QUANTUM™ très puissant avec un outil de génération de rapport.

  • Pointeur laser " CenterLite " pour la mise en place précise de l'échantillon.

  • L'option monochromateur disponible seulement chez HORIBA Jobin Yvon. L'outil parfait pour augmenter la flexibilité de l'instrument en ajoutant un canal "n+1".


Fabriqué par HORIBA Scientific

Schémas

GD-Profiler Schematic

Brochures

Brochure

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