Mシリーズ/750シリーズ

研究開発用途に最適な、高精度・高分解能な大型モノクロメータ

大気汚染監視用浮遊粒子状物質(SPM)濃度測定装置 APDA-370

JIS B 7954「大気中の浮遊粒子状物質自動計測器」に規定されたβ線吸収方式に基づく装置です。

大気
原理:β線吸収

一酸化炭素(CO)濃度測定装置 APMA-370

JIS B 7951「大気中の一酸化炭素自動計測器」に規定された非分散形赤外線吸収方式(NDIR)に基づく測定装置です。ミルクパウダーなどの防塵防爆管理、バルクガス管理や燃焼器具排ガス測定に活用できます。

大気AMC
原理:NDIR

窒素酸化物(NOx)濃度測定装置 APNA-370

JIS B 7953「大気中の窒素酸化物自動計測器」に規定された化学発光方式(CLD)に基づく測定装置です。光触媒のガス濃度管理、脱硝触媒の性能評価実験、クリーンルームの雰囲気監視や文化財の保存環境に活用できます。

微量(ppb)大気AMC
原理:CLD

窒素酸化物(NOx)濃度測定装置 APNA-370

JIS B 7953「大気中の窒素酸化物自動計測器」に規定された化学発光方式(CLD)に基づく測定装置です。光触媒のガス濃度管理、脱硝触媒の性能評価実験、クリーンルームの雰囲気監視や文化財の保存環境に活用できます。

高感度AMC大気
原理:CLD

オゾン(O3)濃度測定装置 APOA-370

JIS B 7957「大気中のオゾンおよびオキシダントの自動計測器」に規定された紫外線吸収方式(NDUV)に基づく測定装置です。食品工場などのオゾン管理、プリンタなどでの発生O3量確認や文化財の保存環境に活用できます。

微量(ppb)大気AMC
原理:NDUV

自動薄膜計測装置 Auto SE

薄膜(膜厚)測定で、より簡単に最大の効果を

新しい膜厚測定ツールとして開発された"Auto SE"は、プッシュボタン感覚での薄膜サンプルの自動測定を可能としております。サンプル分析は厚い膜でもわずか数秒で実施でき、膜厚・屈折率・表面ラフネス・膜不均質性などを含む分析結果をレポート形式にて提供いたします。"Auto...

BHF monitor image

CS-137は、半導体ウェットエッチングプロセスの厳しいニーズに対応するため開発された高精度な薬液濃度モニタです。エッチング工程においてシリコン酸化膜のエッチング及びウエハ表面のパーティクル除去のために使われるBHF溶液(NH4F/HF/H2O)の各成分濃度をリアルタイムで測定し、アラームで薬液交換や自動補給するタイミングを知らせます。これによりBHF溶液の濃度を許容範囲に保つとともに無駄な溶液交換をなくすことができます。

Compact Reticle/Mask Particle Detection System PR-PD3

高い稼働率と長期にわたる安定性で、多くの半導体製造現場から高く評価されているHORIBAの異物検査装置PDシリーズ。そのシンプルで長期安定稼働する搬送系、高スループット、信頼の光学系、さらに誤検出対策機能など高性能の数々を継承し、コンパクトにパッケージングしたのが、レティクル/マスク異物検査装置PR-PD3です。従来機(PR-PD2)と比べて約1/2という小型化を実現するとともに、低ランニングコストを追求。そして0.5μmの検出感度による広い汎用性。レティ...

DIGISCREEN

Automated UV-VIS Spectroscopic Reflectometer - Spectroscopic Reflectometer platform - Spectral Range 400 - 800 nm

価格は仕様により異なりますので、別途お見積もりいたします。「見積・資料・お問い合わせ」よりお申し込みください。

カスタマーサポートセンターでは、お電話でも製品の技術的なご質問や仕様のご相談を承ります。

HORIBA
カスタマーサポートセンター

フリーダイヤル 0120-37-6045
受付時間:
9:00~12:00/13:00~17:00
月曜日~金曜日(祝日をのぞく)