半導体

マルチレンジ/マルチガス機能を搭載したデジタルマスフローコントローラのベストセラーモデル。±1.0%S.P.の高精度、フルレンジ1秒以内の高速応答、5SCCMから500SLMのワイドレンジで、幅広いプロセスに貢献。

薄膜（膜厚）測定で、より簡単に最大の効果を

新しい膜厚測定ツールとして開発された"Auto SE"は、プッシュボタン感覚での薄膜サンプルの自動測定を可能としております。サンプル分析は厚い膜でもわずか数秒で実施でき、膜厚・屈折率・表面ラフネス・膜不均質性などを含む分析結果をレポート形式にて提供いたします。"Auto...

カソードルミネッセンスMP-32S/Mは、サーマルタイプのフィールドエミッションSEMを使用し、今まで不可能だった微少領域における高空間分解能での評価を実現、サブミクロンの壁を突破しました。

高分解能・高性能な中型モノクロメータで、多くのアプリケーションに適しています。

ユニークなデザインの、ユニークな分光器です。通常のCzerny-Turnerマウントの分光器のような、核型の分光器と異なるデザインは、きわめて高品位なイメージング性能を得るために、また、高いスループットを得るために採用されました。計算された光学設計により、CCD検出器を使用した場合、イメージングもしくはレゾリューションで最適化できます。数多くのアプリケーションに対応した、使いやすく、信頼性の高い中型分光器です。

このクラス初のイメージングモノクロメータ

液体窒素冷却タイプの低ノイズ検出器で、近赤外領域を、高速・高感度で測定します。

メタルO-リング対応の大流量モデル

ソレノイドバルブを搭載、コストメリットを追及したマスフローコントローラ

The UVISEL VIS spectroscopic ellipsometer covers the spectral range from 210 to 880 nm, and can be easily extended in both FUV and NIR range (see UVISEL FUV and NIR models). The measurement is performed in a few minutes and is extremely repeatable.

The UVISEL NIR spectroscopic ellipsometer extends the UVISEL VIS in the near infrared spectral range up to 2100 nm.

The UVISEL FUV spectroscopic ellipsometer extends the UVISEL VIS down to 190 nm.

The UVISEL ER-Extended Range spectroscopic ellipsometer covers a wide spectral range from 190 to 2100 nm.