粒子径・ゼータ電位・分子量測定装置
ナノ粒子解析装置 nano Partica SZ-100シリーズ

動的光散乱式粒子径分布測定装置に新モデル登場!シングルナノ粒子の評価をより高感度・高精度に1台3役(ナノ粒子測定・ゼータ電位測定・分子量測定)ナノ粒子のキャラクタリゼーション解析に必須

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レーザ回折/散乱式粒子径分布測定装置
レーザ回折/散乱式粒子径分布測定装置 Partica LA-950V2

世界最速分析。1サンプル60秒測定。分散媒の注入→サンプリング→測定→洗浄→データファイルまでを完璧にこなします。

レーザ回折/散乱式粒子径分布測定装置 Partica LA-950V2 乾式ユニット付き

精度とスピードに最大限こだわった世界最高のスペックを実現。あらゆる“粒の大きさ”を瞬時に計測。

レーザ回折/散乱式粒子径分布測定装置 LA-300

世界中のユーザーから高い評価を得ているHORIBAのレーザ回折/散乱式粒子径分布測定装置に、新モデルLA-300が登場しました。HORIBAならではの精度保証付の高精度、ワイドな測定範囲、そして優れた操作性をコンパクトにまとめ、セラミックスや化学製品、粉末塗料、薬品、加工食品などの研究開発を目的とする測定ニーズに対応するのはもちろんのこと、ISO-9000や、医薬品安全性試験および製造基準のGLP/GMPといった品質管理面のニーズにも、的確にお応えします。...

レーザ回折/散乱式粒度分布測定装置 LA-920

従来モデルも継続サポート。旧機種LA-910モードも装備。

レーザ回折/散乱式粒度分布測定装置 LA-750

旧機種LA-700/LA-500と同一光学系を採用。

デジタル画像解析式粒子径分布測定装置
デジタル画像解析式粒子径分布測定装置 カムサイザー

光学機器の名門イェーナオプティク社とラボ用粉体機器の老舗レッチェ社の共同開発製品です。2台のCCDカメラを使い、30μm〜30mmの超ワイドレンジでの正確な測定を可能にしました。...

価格について

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