[終了しました] 第3回[国際]二次電池展

開催期間: 2012年2月29日 - 2012年3月 2日

会場: 東京ビッグサイト

 

※第３回[国際]二次電池展は終了いたしました。多数のご来場誠にありがとうございました。

会期／2012年2月29日(水)～3月2日(金) 10:00～18:00（最終日は17:00まで）
会場／東京ビッグサイト（東京国際展示場）西展示棟1階　(検査・試験・評価ゾーン)　ブースNo.W4-40

招待券については公式HPよりご登録ください。
招待券をお持ちでない場合は別途入場料5,000円が必要となります。

主催 リード エグジビション ジャパン株式会社 
 

日頃は弊社製品につきまして、格別のご愛顧を賜りありがとうございます。
さて、来る2月29日（水）～3月２日（金）の3日間、東京ビッグサイトにおきまして、第３回国際二次電池展が開催されます。
弊社は、「ハイテクの一歩先に、いつも。HORIBA」をテーマにリチウムイオン二次電池の材料の研究開発から、生産管理にいたるまで、現場でお役に立てる分析機器を展示・ご提案致します。ご多忙中とは存じますが、この機会に弊社製品を一層親しくご理解いただきたく、ご来場賜りますようご案内申し上げます。

　■正極・負極材料の結晶構造を解析
　　顕微レーザラマン分光装置 LabRAM ARAMIS
　　

　■正極・負極材料の受け入れ検査や品質管理に
　　レーザ回折／散乱式粒子径分布測定装置Partica LA-950V2
　　

　■pH調整・管理に
　　卓上型 pH・水質分析計 F-70/DS-70シリーズ
　　

  • ストレスフリーな操作性 「スマートナビゲーション」
  • 技術の粋を結集　「新・pH電極」
  • ニーズにぴったりの組合せが見つかる 「本体＋電極のセット」

　　フラット ISFET pH電極
　　

  • 半導体技術を応用した応答部を搭載。
  • 測定時に割れる心配がありません。
  • 微量のサンプルでも測定可能。

　■電池材料中の炭素・硫黄分をppmレベルで測定
　　炭素・硫黄分析装置　EMIA-920V2

　■セパレータ・電極上の微小異物の検出と分析に
　　X線分析顕微鏡 XGT-7200V

　■電子顕微鏡との連動微小領域の元素分析を行う
　　エネルギー分散型X線分析装置 EMAXEvolution

　■高速で試料の深さ方向の元素分析が可能
　　マーカス型高周波グロー放電発光表面分析装置 GD-Profiler2

  •  会場へのアクセス
    東京ビックサイト（東京国際展示場）
    〒135-0063　東京都江東区有明3-11-1
    TEL：03-5530-1111 
    ＜りんかい線の場合＞　「国際展示場」駅下車 徒歩約7分
    ＜ゆりかもめの場合＞　「国際展示場正門」 駅下車 徒歩約3分
    →アクセスマップ