国際粉体工業展 東京 2018 新分析手法で見極める、粉の可能性

HORIBAは本年も「国際粉体工業展 東京 2018」に出展する運びとなりました。HORIBAブースではテーマを“新手法で見極める、粉の可能性”と題し、粉体分析に関する一連のソリューションを、多くの新製品・新技術を取り揃えて展示いたします。 また、「Your Partner in Science」として、分析装置のカスタマイズ事例をご紹介するとともに、分析に関するご相談も喜んで承ります。 さらに、期間中に開催される「製品技術説明会」では、粒子計測の基礎から新製品・最先端技術まで2テーマに分けて幅広くご紹介いたします。皆様のご来場をお待ち申し上げております。


出展のご案内



ナノ粒子径・個数・画像解析 ViewSizer 3000
複数光源波長とカラーCCDによる広範囲測定を実現、動画で観察。蛍光を発する粒子も測定が可能です。CMPスラリー、インク、ファインバブル、半導体用超純水等の分析に!

ワイドレンジ用 粒子径分布測定 Partica LA-960V2
高濃度試料も希釈不要*、さまざまな試料濃度での測定が可能になりました(*試料によって異なります)。電池用スラリー・インク等の高濃度測定に!

粒子形状検出・組成分析 Raman ParticleFinder
光学イメージから粒子の位置を検出、 形状情報・化学組成情報を同時に取得。砥粒子、製剤、マイクロプラスチック、カーボンブラック等の分析に!

粒子径分布・ゼータ電位・分子量測定 nanoPartica SZ-100V2
ハイパワーレーザと光学系最適化により測定感度Up(約15倍*)ナノフィラー、量子ドット、ゲル等の評価に!
*当社従来機比

蛍光X線 異物分析・元素分析 XGT-9000
光学像・蛍光X線マッピング像・透過X線像観察がこれ一台で完結!電池、食品、化粧品、薬品などの異物分析や、ICなど微小部分の元素分析・膜厚・付着量測定に!


製品技術説明会のご案内


11月29日(木) 13:15~13:45 Dルーム


粒子分析の最前線

~高濃度状態での凝集解析からナノ粒子・ゲル分析まで~


従来あきらめていた測定も可能になる?お客様のニーズに応える、最新の粒子径分布測定事例を一挙にご紹介!さらに、総合分析装置メーカーならではの複合分析事例などもご紹介します。

11月30日(金) 13:15~13:45 Bルーム


いまさら聞けない粒子径分布測定と粒子解析の基礎

~基礎がわかれば応用も効く!~


粒子を観察する数多くの手法について基礎からご紹介。レーザー回折法、動的光散乱法、粒子組成分析、画像解析など、応用事例を交えてわかりやすくご紹介します。

聴講は先着順・予約不要です(定員80名)
聴講は無料です。詳しいプログラムはこちらをご参照ください。

HORIBA ブースのご案内



HORIBA ブースのご案内

本展示会の入場は有料(¥1,000)です。入場料が無料になる「来場事前登録」をお勧めいたします。

Web事前登録はこちら


PDF版はこちら
国際粉体工業展 東京 2018