会期      :2017年10月11日(水)~13日(金)
開催時間:10:00~17:00(3日間とも)
会場      :インテックス大阪(南港) 4・5号館
[出展製品のご案内]

粉体の分析・分析前処理に役立つ機器をトータルにご紹介します。
※出展製品は予告なく変更する可能性がございます。予めご了承ください。

粒子径分布測定

レーザ回折/散乱測定

スーパーワイドレンジ(0.01~5000 μm)を実現したハイエンドモデル。NISTトレーサブルな標準試料に対して、±0.6%の高精度保証に加え、高再現性を実現。豊富なオプション類も取り揃えています。


動的光散乱測定

ナノ粒子の特性を評価する重要な3つの要素(粒子径・ゼータ電位・分子量測定)を1台に集約。ゲル測定専用タイプもご提案します。

粒子画像解析

SEM-EDX解析

自動粒子解析機能

電子顕微鏡で見つけた粒子にピンポイントで電子線を照射し分析。元素、位置、大きさなどの多様な情報を入手できます。

粒子解析測定画面

ラマン分光による粒子画像イメージング

ラマン顕微鏡

試料から散乱されるラマン散乱光を検出することで、試料の分子構造や化学組成を解析できます。

装置のカスタマイズ

HORIBAは、分析に関するお客様のお困りごとに柔軟に対応するため、カタログに記載されている製品だけでなく、コンポーネントの組み合わせやオプション品開発により、お客様のニーズに沿った仕様や装置をご提案いたします。

粉体工業展大阪 2017では、装置のカスタマイズの実例を、具体例を交えてご紹介します。

pH・水質分析

pH・水質計シリーズ

卓上型/ポータブル型/コンパクト型の3機種を展開。豊富な電極ラインアップや使いやすさでさまざまな液体測定ニーズに柔軟に応えます。


セミナーのご案内



HORIBAブースのご案内

本展示会の入場は有料(¥1,000)です。入場料が無料になる「来場事前登録」をお勧めいたします。

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粉体工業展 大阪2017