rf-GD-OES（GDS）分析装置は、Arプラズマにより試料をスパッタリングさせ、スパッタされた原子を原子発光させることで、元素分析を行う、迅速かつ簡単な表面分析装置・深さ方向元素分析装置として、薄膜・めっき・熱処理・表面処理・コーティングなどの研究開発・生産技術・品質管理の分野において、幅広く活用されています。高周波方式グロー放電を採用しているため、非導電性試料でも表面分析が可能です。

• 迅速に表面分析がしたい
• たくさんの試料・検体数の表面分析／深さ方向分析がしたい
• 定量的な表面分析がしたい

といった、表面分析／深さ方向分析のお悩み・お困りにお応えすることができます。

次の機関ではrf-GD-OESを使って有償受託分析事業を展開しています。
日鐵テクノリサーチ様：http://www.nstr.co.jp/
環境技研リサーチセンター様：http://www.get-c.co.jp/
コベルコ科研様：http://www.kobelcokaken.co.jp/
住友金属テクノロジー様：http://www.smt-inc.co.jp/
なお、弊社分析センター：http://www.horiba.com/jp/scientific/application-center-jp/ においても受託分析を行うこともできます。