分光エリプソメーター(膜厚計)
超薄膜・多層膜など幅広いアプリケーションに対応するHORIBA JOBIN YVONのエリプソメーター
光学測定による膜厚計は、非破壊、非接触という大きな特長を有しています。
HORIBA JOBIN YVON（ホリバ・ジョバンイボン）では、幅広い膜厚測定ニーズに対応して、多様な膜厚計を提供しています。
HORIBAエリプソニュース
- 新製品 可視分光エリプソメータ Smart SEを掲載しました
- 自動薄膜計測装置 Auto SEの波長範囲を拡張
HORIBA Scientidficは、Auto SEの波長範囲を近赤外域へ拡張し、440nmから1000nmまでの波長での測定を可能とします。この性能向上は、太陽電池、半導体、ディスプレイおよび光エレクトロニクス分野の薄膜評価にとって理想的です。
製品ラインナップ
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