
材料物性
フォトルミネッセンス測定装置
化合物半導体の評価に最適。
基礎研究からマッピングルーチン測定まで、幅広いニーズにお応えします。
非破壊、非接触による、化合物半導体の組成評価、欠陥評価、量子井戸の評価、不純物評価、結晶性評価が行えます。
用途
- 化合物半導体エピ層の組成分析
- 発光材料の欠陥
- 界面の評価
- 光集積回路の非破壊評価
フォトルミナーDはシリコン中の微量不純物分析用途を目的として開発されました。シリコンは最もよく使用されている半導体です。フォトルミネッセンス法は品質管理に応用すぺく長年研究が行われてきました。1977年電子技術総合研究所の田島博士(現在:宇宙科学研究所)はシリコン中の不純物定量分析をフォトルミネッセンス法で評価する方法を開発されました。この方法によりシリコン中のB,P,Al,As...
フォトルミナーSは高感度な分光分析用PLシステムです。高感度測定はPL装置では重要です。第一に微弱なPL光を検出するためです。その他、励起光密度の増大によりPLスペクトルの形状が変化したり、励起光密度の変化によりPLスペクトルのピーク波長が変化するケースがあり、高感度測定装置であれぱ励起光密度の変化に対応しやすいと考えるからです。フォトルミナーSは高品質の集光レンズを採用しています。そしてソフトウェアにより測定波長と同期してレンズが移動し色収差の影響を無く...
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