電子ビームの照射により試料から発生するカソードルミネッセンスを利用し、微小領域での物性評価、表面下にある構造の観察・評価、ワイドギャップ材料等の評価、欠陥・不純物の評価など、様々な評価が行われています。 また、フィールドエミション電子顕微鏡と組み合わせることにより、ナノオーダの微小領域の評価が可能になり、さらなるナノテクノロジを切り拓こうとしています。
電子顕微鏡と組み合わせて微小領域の異物解析、組成分析に最適です。分析業務全体をわかりやすくサポートするフローチャート形式のナビゲータを搭載。高度な機能を使いやすく−これからのX線分析装置の姿です。
HORIBA JOBIN YVON(ホリバ・ジョバンイボン)の蛍光分光光度計・蛍光分光測定装置はモジュール型、簡易型、光ファイバー型から用途やご予算に応じて適切な装置をお選びいただけます。 リン光ユニットが一体型された簡易型蛍光リン光分光光度計も発売しています。 蛍光、リン光測定に関するアプリケーションもご紹介しております。サンプル測定、デモ機の貸し出しもおこなっております。詳細はお気軽にお問い合わせください。
コンピュータによるフーリエ関数演算を利用した分光法を採用。高感度な赤外スペクトル測定により、測定試料 (有機物) の成分 (官能基) 分析を行なう最新鋭の赤外分光光度計です。分析作業の効率化のための様々なアプリケーションソフトウエアを搭載。高精度測定がフリーメンテナンスで手軽に行えます。電気・電子分野や高分子・石油化学などにおける微細・微量試料分析に威力を発揮します。
10μmのX線。超・微細X線ビームを、独自のX線導管(X-ray Guide Tube)の開発でついに実現。 試料をスキャンさせながらX線を照射し、CCDカメラやX線検出器と連動させることで、光学顕微鏡による観察と、X線分析装置による元素分析の機能を完全にシームレスに融合することに成功しました。 いままでとは異なる、新世代の顕微鏡の世界へ。＜XGT＞が科学を新時代へと進めます。
化合物半導体の評価に最適。 基礎研究からマッピングルーチン測定まで、幅広いニーズにお応えします。 非破壊、非接触による、化合物半導体の組成評価、欠陥評価、量子井戸の評価、不純物評価、結晶性評価が行えます。
ラマン分光法は、物質の化学組成の同定や分子構造の解析をするために大変有効で近年は、様々な分野の最先端研究において注目を集めています。 しかし、ラマン散乱光の強度は非常に微弱なため、高感度で最適化された光学系が必要とされます。 光学関連技術に優れた実績を持つホリバ・ジョバンイボン社は、各種のラマン装置を開発し、常に最高の性能を追及しています。
適切なウェットエッチング液が見つからない！ 耐食性が高く、エッチングできない！ 鏡面研磨後やFIB・CP処理後に試料表面に凹凸を付けたい！ イオンミリングではなかなか処理が難しい！といった場合にご提案できるのが、顕微鏡用前処理専用装置（TENSEC）です。
