物質を原子・分子レベルで制御し、新たに得られた機能性や拡張性を応用するナノテクノロジー研究開発が進化し続けています。
より高速・高性能かつエネルギー消費量の節減を目指すデバイスや機能を目指すには、部材の小型化すなわちナノメートルレベルでの制御が必要となります。
食品、化粧品、ライフサイエンス分野にまで、ナノテクは身近に浸透しています。

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製品ラインナップ

ナノ粒子解析装置 nano Partica SZ-100シリーズ

動的光散乱式粒子径分布測定装置に新モデル登場!シングルナノ粒子の評価をより高感度・高精度に1台3役(ナノ粒子測定・ゼータ電位測定・分子量測定)ナノ粒子のキャラクタリゼーション解析に必須

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レーザ回折/散乱式粒子径分布測定装置 Partica LA-950V2

世界最速分析。1サンプル60秒測定。分散媒の注入→サンプリング→測定→洗浄→データファイルまでを完璧にこなします。

レーザ回折/散乱式粒子径分布測定装置 LA-300

世界中のユーザーから高い評価を得ているHORIBAのレーザ回折/散乱式粒子径分布測定装置に、新モデルLA-300が登場しました。HORIBAならではの精度保証付の高精度、ワイドな測定範囲、そして優れた操作性をコンパクトにまとめ、セラミックスや化学製品、粉末塗料、薬品、加工食品などの研究開発を目的とする測定ニーズに対応するのはもちろんのこと、ISO-9000や、医薬品安全性試験および製造基準のGLP/GMPといった品質管理面のニーズにも、的確にお応えします。...

レーザ回折/散乱式粒度分布測定装置 LA-920

従来モデルも継続サポート。旧機種LA-910モードも装備。

レーザ回折/散乱式粒度分布測定装置 LA-750

旧機種LA-700/LA-500と同一光学系を採用。

デジタル画像解析式粒子径分布測定装置 カムサイザー

光学機器の名門イェーナオプティク社とラボ用粉体機器の老舗レッチェ社の共同開発製品です。2台のCCDカメラを使い、30μm〜30mmの超ワイドレンジでの正確な測定を可能にしました。...

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測定項目

測定範囲

製品名・型式

粒子径(光子相関法)

0.3~8000nm

ナノ粒子解析装置
nano Partica SZ-100シリーズ

ゼータ電位(電気泳動レーザードップラー法)

 -200~+200m

ナノ粒子解析装置
nano Partica SZ-100シリーズ

平均分子量(静的光散乱Debyeプロット法)

1×103~2×107g/mol 

ナノ粒子解析装置
nano Partica SZ-100シリーズ

粒子径(Mie散乱理論)

0.01~3000μm

レーザ回折/散乱式粒子径分布測定装置 Partica LA-950V2

粒子径(デジタル画像解析)

0.03~30mm

カムサイザー    
デジタル画像解析式粒子径分布測定装置

粒子形状(デジタル画像解析)

0.03~30mm

カムサイザー    
デジタル画像解析式粒子径分布測定装置

粒子径(Mie散乱理論)

0.1~600μm

レーザ回折/散乱式粒子径分布測定装置 LA-300

粒子径(Mie散乱理論)

0.02~2000μm

レーザ回折/散乱式粒子径分布測定装置 LA-920

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測定する目的やその対象によって相応しい装置をお勧めします。

→ナノ粒子を測定したい

→湿式サンプルをはかりたい (エマルション、懸濁液、コロイドなど)

→乾式サンプルをはかりたい (乾燥粉末、造粒粉など)

→湿式、乾式両方のサンプルをはかりたい

→湿式サンプルを希釈せずにはかりたい

→食品をはかりたい(米粉、大豆粉、小麦粉など)