レーザ回折/散乱式粒度分布測定装置 LA-750
概要
高分子化学や新素材分野で、素材となる粉粒体の大きさと分布状態を測定する装置です。
レーザ回折/散乱方式を採用し、光学系の切り換えなしに0.04μm〜262μmの粒子径範囲を一度に測定できます。高分子化学やセラミックスをはじめとする新素材分野での研究・開発・製造部門で威力を発揮します。
特長
- 大出力遠心ポンプの採用で、高比重の鋼球でも常に安定したスムーズな循環を可能にし、極めて高い再現性を実現します。
- 新設計のリング状検出器と20個の検出器が広い角度にわたる散乱パターンをより正確にキャッチします。さらなる高精度・高分解能を実現します。
- ニューラルネットワーク（人工知能）の採用で、散乱パターンより分布形態を自動判別します。
- オートアライメント（光軸自動調整）機能により、光学調整の手間がなくなり、メンテナンス性が向上。装置を常に最良の状態に保ち、再現性の良い測定が可能です。
- 新開発のセキュリティ機能は、日常の測定者や管理者、研究者など、使う人に合わせて操作範囲を自由に設定できるため、情報の管理・安全性が一段と向上しています。
- 印刷レイアウトプレビュー機能により、品質管理や装置点検作業のための報告書が、ボタン操作一つで自動的にプリントアウトできます。
- 簡易粒度分布リアルタイム表示により、試料の分散・凝集状態が一目で確認できます。
希望販売価格
￥9,000,000 (税込￥9,450,000)
製造会社: HORIBA
仕様
測定原理 | Mie散乱理論 |
|---|---|
測定粒子範囲 | 0.04〜262μm |
測定時間 | 通常20秒（測定開始から結果表示まで） |
測定方式 | マニュアルフローセル測定 |
測定必要試料量 | 10mg〜5g（フローセル測定時：ただし試料により異なる） |
分散媒 | 約200mL（フローセル使用時） |
測定部 | 光学系／光源：He-Neレーザ（632.8nm）、1mW |
使用温度・湿度 | 15℃〜35℃、85%RH以下（ただし露結しないこと） |
電源 | AC100/120/220/240V50/60MHz、500VA |
本体寸法 | 690（L）×525（W）×355（H）mm |
質量(測定部) | 約60g（電池含む） |
データ処理・操作部 | PC/日本語Windows95が動作するIBM PC/AT互換機 |
HORIBA粒子計測ニュース
- 粒子径計測技術トレーニングのご案内：LA-950
- 粒子径計測技術トレーニングのご案内：LA-920
- アプリケーションノート追加しました
- 穀物専用 粒径測定器の紹介ページを掲載しました
- 製品紹介ビデオ：SZ-100を掲載しました
- 製品紹介ビデオ：粒子径分析を掲載しました