
ナノ粒子解析装置 nano Partica SZ-100シリーズ
特長
- ナノサイズのキャラクタリゼーションを解析する重要な3つの要素測定(ナノ粒子測定・ゼータ電位測定・分子量測定)を一台に集約。
- ppmオーダの希薄系から数十%レベルの高濃度試料まで、そのままの状態でのサンプリング・測定が可能。
- 微小容量電気泳動セル 独自の開発により、わずか100μLサンプリングでのゼータ電位測定。
- コロイド粒子、機能性ナノ材料、高分子、ミセル、リポソーム、ナノカプセルなど幅広い応用分野に適合。
サンプリング後は測定開始ボタンを押すだけの使い易いシンプルなオペレーション。
幅広いアプリケーション
●セラミックナノ粒子
●金属ナノ粒子
●カーボン
●製薬
●ウィルス
●塗料・顔料
●化粧品
●ポリマー
●食品
●CMP
粒子径測定
・超ワイドダイナミック測定レンジ:0.3nm〜8000nm
・NEDO国家プロジェクトとの共同開発コリレータ採用による高性能化を実現。
・シングルナノ粒子専用光学系に、低迷光90度光学系を採用。
・幅広い測定試料濃度範囲
デュアル光学系の採用により、スラリーや顔料など高濃度試料から、ミセルやポリマーなど希薄試料の測定に対応。
ゼータ電位測定
・標準装備されたHORIBA独自開発のマイクロセルにより、わずか100μLのサンプリング容量で測定可能。
粒子径分布測定例
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●リゾチーム(卵白由来) 酢酸バッファ pH4.3
分子量:約14000 濃度:0.1mg/mL 平均直径:4.0nm
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●塩酸チアミン(ビタミンB1塩酸塩)
分子量:337 濃度:300mg/mL 平均直径:0.5nm
ゼータ電位測定例
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●NIST SRM1980 α-FeOOH 移動度:2.53±0.12μmcm/Vs
<測定結果>移動度:2.53μmcm/Vs,ゼータ電位:32.9mV
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●ルドックス® TM SiO2, 0.01mol/L KCl
<測定結果>ゼータ電位:-38.3mV
※クラス1レーザ製品
・粒子径測定原理・ゼータ電位測定原理・分子量測定原理は「技術ページ」をご覧ください。
・粒子径測定・ゼータ電位測定・分子量測定のアプリケーションノートは「アプリケーション・その他資料ページ」をご覧ください。
希望販売価格
・SZ-100-Z ¥12,000,000 (税込 ¥12,600,000~)
・SZ-100-S ¥8,500,000 (税込 ¥8,925,000~)
製造会社: HORIBA
仕様
型式名 | SZ-100 |
|---|---|
構成 | 分析部本体、PC、プリンタ |
粒子径計測測定原理 | 光子相関法 |
粒子径測定範囲 | 0.3nm~8μm |
粒子径測定精度 | ISO13321準拠規格 |
分子量測定原理 | デバイプロット法 |
分子量測定範囲 | 1×103〜2×107 Da |
ゼータ電位測定原理 | 電気泳動レーザドップラ法 |
ゼータ電位測定範囲 | -200~+200mV |
試料セル温度コントロール | 1.0~90.0℃ |
使用温度・湿度 | 15~35℃ 85%RH以下(ただし結露しないこと) |
電源 | AC100V 50・60Hz 150VA |
外形寸法 | 527(W)×385(D)×273(H)mm |
オプション | 21CFR part11 ソフトウェア、ディップ式セル |
測定原理
- 粒子径測定原理
動的光散乱法による微粒子サイズの測定方法は、溶液中に分散するブラウン運動をしている粒子にレーザ光を照射し、粒子からの散乱光を光電子増倍管(PMT)で検出します。大きな粒子ほど遅く、小さな粒子ほど速いブラウン運動をしているので、粒子からの散乱光はこの動きの速さに応じたゆらぎをもった信号として検出されます。得られた信号を、光子相関法による解析で、自己相関関数を求、粒子径とその分布を算出します。
自己相関関数※の算出は、ある任意の時間(t)における散乱光強度と、そのτ時間後の強度の差の比較をしたものです。大きな粒子ほどゆっくりとした動きをしているので、τ時間後の動き(変化)は少なく緩やかな減衰曲線となり、小さな粒子ほど速く活発に運動しているので、τ時間後に変化が大きくなります。(上図参照)この粒子の動きによるパターンの変化が拡散係数として定量化され、粒子径との関係式:ストークス・アインスタインの式から粒子径(d)が求められます。(下式参照)
※自己相関関数:散乱光強度のゆらぎを時間変化で求めたものを二次関数で示したもの。任意の時間(t)における散乱光強度と、そのτ時間後の強度を比較する。
ストークス・アインスタインの式により、拡散係数から粒子径(d)を求める。
■二次の自己相関関数の式
■ストークス・アインスタインの式
D: 拡散係数 k: ボルツマン定数 q: 散乱ベクトル
T: 絶対温度 τ: 遅れ時間 η: 分散媒の粘度 d: 粒子径(直径)
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- ゼータ電位測定原理(電気泳動ドップラー法)
溶液中に分散している微粒子やコロイドは、プラスもしくはマイナスに帯電しており、その周囲を逆の電荷を持つイオンが取り巻いて熱運動をしています。そこへ電場を与えると、粒子の電荷と逆の電位方向へ移動します。移動速度は電荷量に比例します。移動時に光を照射すると、その移動速度に応じてドップラー・シフトを起こした散乱光が観察され、シフト量は移動速度に比例します。すなわち、散乱光の周波数変化量を測定することで、粒子のすべり面での電位=ゼータ電位が測定されます。微粒子の表面状態を把握する指標として、ゼータ電位を測定し、分散性や微粒子の機能性改善に役立てられています。
◎電気泳動法
ゼータ電位を測定する手法は既に幾つか確立されていますが、HORIBAのnano particaでは電気泳動法を採用しています。溶媒中(溶媒の屈折率=n)に分散している試料粒子に、レーザ光(波長=λ)を照射し、電場を与えたときに(電圧=E)、検出角度θで捉える周波数変化には、粒子が移動する速度(V)および移動度(U=V/E)と次の関係が成り立ちます。
求められらた電気移動度とゼータ電位との関係には次の式が成り立ちます。
ζ :ゼータ電位 U :電気移動度 E :電圧 n :溶媒の屈折率
ε :溶媒の誘電率 η :溶媒の粘度 f(κa) :ヘンリー係数
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- 分子量測定原理
試料濃度を調整して静的光散乱法による計測を行い、Debyeプロットを用いての絶対分子量を計算する方式です。合成高分子やタンパクなどの生体高分子まで、幅広く対応します。同一サンプリングで動的光散乱法による粒子径も測定ができます。代表的な標準試料やサンプルを用いた測定例を示します。
アプリケーション
製品ご紹介ビデオ
粒子径測定方法、ゼータ電位測定及び分子量測定を動画でご紹介。
また測定原理をアニメーションでご説明いたします。
HORIBA粒子計測ニュース
- 粒子径計測技術トレーニングのご案内:LA-950

- 粒子径計測技術トレーニングのご案内:LA-920

- アプリケーションノート追加しました

- 穀物専用 粒径測定器の紹介ページを掲載しました

- 製品紹介ビデオ:SZ-100を掲載しました
- 製品紹介ビデオ:粒子径分析を掲載しました







