nanoPartica SZ-100V2 ゲル解析ユニット

ナノ粒子解析装置

  • ゲル解析

動的光散乱法を用いて、ゲルが持つネットワーク構造の網目サイズの分布を簡便に測定することができます。

  • 場所ごとに不均一な網目構造を持つゲルを解析するため、試料中の測定ポイントを自動で変えて測定を可能です。
  • 得られた自己相関関数を専用のソフトウェアを用いて平均することで、ゲル全体としての自己相関関数を算出することができます。
  • ゲル全体としての自己相関関数から、網目サイズの分布が得られます。
事業セグメント: 科学
製品分類: 粒子計測装置
製造会社: HORIBA, Ltd.

アプリケーション例

  • ゲルインク
  • 人工硝子体
  • 各種コーティング剤(建築、自動車のボディーコートなど)
  • セルロースナノファイバー
  • 増粘剤
  • その他の網目構造を持ったゲル状の物

 

◎ゲル材料のネットワーク構造解析事例

動的光散乱法によるゲルの網目サイズ評価では、ゲル中の多点の測定機構と、ゲルに特化した演算方式を採用することにより、ゲルの網目構造を簡便に解析できます。

ゲル材料のネットワーク構造解析事例

SZ-100タイプ名粒子径ゼータ電位分子量ハイパワーレーザ
 S2  
 Z2 
 HS2 
 HZ2
測定原理粒子径: 光子相関法
ゼータ電位: 電気泳動レーザドップラー法
分子量: 静的光散乱Debyeプロット
ゲル測定 : 光子相関法
測定範囲粒子径: 0.3 nm ~ 10 μm (直径)
ゼータ電位: -500 mV ~ +500 mV (粒子: 2.0 nm~100 μm*1)
分子量: 1000 ~ 2 x 107 (Debyeプロット)、540 ~ 2 x 10(MHS式*2
ゲル測定 : 0.3nm~10μm(網目サイズ)
ゲル・粒子径測定角度90° および173° (ただし、試料濃度による)
使用可能分散媒水、エタノール、有機溶媒(ただし、セル材質による)
サンプルセルキュベットセル(粒子径・分子量・ ゲル )、電極付きセル(ゼータ電位)
測定時間粒子径測定 :通常約2分(粒子径測定時、測定開始から結果表示まで)
ゼータ電位:通常約2分(粒子径測定時、測定開始から結果表示まで)
ゲル測定:通常約20分(粒子径測定時、測定開始から結果表示まで)
測定部光学系光源: 半導体励起固体レーザ 532 nm 10 mW、または 100 mW
検出器: 光電子倍増管(PMT)
ホルダ温度温調設定温度0~90℃(プラスチック製セルおよび電極付きセルは70℃まで)
レーザクラスクラス1
データ処理・操作部
  • PC:IBM PC/AT互換機
  • OS:Windows® 10(日本語表示には日本語Windows® 10が必要
  • プリンタ・モニタ:Windows® 10対応機種
  • 操作方式:Windows® 10の環境下でのマウス、キーボードによる入力
  • 21CFR Part11対応

*1: 試料に依存します
*2: Mark-Howink-Sakurada式より算出(試料に依存します)

お問い合わせ

* 項目は必ずご記入ください。

HORIBAグループ企業情報