蛍光X線分析 (XRF)

蛍光Ｘ線分析法は、Ｘ線を試料に照射した時に発生する蛍光Ｘ線のエネルギーや強度から、物質の成分元素や構成比率を分析する手法です。
蛍光Ｘ線は元素毎にそのエネルギーが決まっています。
また、蛍光X線の強度は試料を構成する元素の量に関係しています。
Ｘ線はさらに、物質を透過する能力が高く、固体、液体、粉体を非破壊で分析することにも適しています。

用途

• 最先端素材の研究開発
• 製造の現場での異物分析/故障解析
• 有害元素のスクリーニング