微小部X線分析装置 XGT-9000

概要

高感度化+新イメージング技術により、スピード異物分析が一台で完結!進化したμXRF

  • 前処理不要・非破壊で簡単元素分析
  • 微小な領域も高精細な光学観察で測定ポイントに迅速アクセス
  • 多彩な画像解析ソフトも充実

  • 分析時間の短縮に貢献します。
  • ノイズの少ないX線像で、より鮮明な観察が可能になりました。

 

 

高速スクリーニングと画像処理による強調表示で異物を迅速検出。さらに微小照射径のX線により、異物の元素を詳細に分析でき、一連の異物分析を1台で完結できます。数十μmレベルまでの異物分析が可能です。



動画


製造会社: HORIBA

仕様

基本情報

測定原理

エネルギー分散型蛍光X線分析法

検出可能元素

Na (11) ~ U (92)

最大試料サイズ[W x D x H]

300 x 250 x 40 mm

ステージ可動範囲[W x D x H]

100 x 200 x 20 mm

光学像

全体像 / 詳細像

詳細像観察 / X線分析箇所

同軸

X線管

管電圧

15 kV, 30 kV, 50 kV

管電流

最大 1 mA

ターゲット材

Rh

光学素子

キャピラリ搭載数

3

検出器

蛍光X線検出器

液体窒素レス検出器(SDD)

透過X線検出器(透過X線像)

マッピング

マッピング領域

100 x 100 mm(最大)

画素数

4 種切り替え

光学カメラ(詳細観察像)

視野角

2.5 x 2.5 mm

光学分解能

<10 μ m

焦点距離(WD)

1 - 10 mmの間で可変

照明

周囲、同軸、透過光照明

その他

真空引き範囲

試料室全体 /光学系のみ真空

  • XGT シリーズのご使用に際しましては、電離放射線障害防止規則に基づいて、設置の30 日前までに所轄の労働基準監督署への届出が必要です。
  • 漏洩X 線実効線量率限度並びにその測定方法は、JAIMAS-0101-2001 に適合しています。

 

 

外形寸法図・他(単位:mm)

アプリケーション

フィルム中異物の分析

目視で確認しにくい異物も、マッピングによるスクリーニング後に、詳細像を確認しながら分析できます。

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