蛍光X線分析 (XRF)
有害元素分析装置
試料に含まれる有害元素（Pb, Cd, Cr, Hg, Br）のスクリーニング分析及びハロゲンフリー対応の為の塩素（Cl）分析を迅速に行うことが出来る蛍光X線分析装置です。CCD画像を見ながらサンプルセットをすれば後はボタンを１クリックするだけで、条件設定から結果表示まで自動的に測定作業を実行します。
プリント基板の面分析、チップ抵抗etc.の適応除外品の判定など微小部品のPb分析などにはX線分析顕微鏡タイプ、大きな試料のバルク分析には大型の試料室を備えた卓上型の有害元素分析装置とHORIBAの有害元素分析装置はお客様の分析ニーズと試料形態に合わせて様々なラインナップをご用意しています。
HORIBA 有害元素分析装置 ニュース
製品ラインナップ
XGTシリーズに高性能機が新たにラインアップ！WEEE/RoHS･ELV指令､中国版RoHS(電子情報製品汚染制御管理弁法)支援！異物分析・故障解析から文化財・貴重品の元素分析、有害元素管理の分析まで1台で幅広く対応。
φ400μｍプローブで有害元素対応のマッピング分析を実現！新開発、液体窒素レス検出器による高分解能・高計数率のＮｅｗ蛍光Ｘ線分析装置。SDD搭載X線分析顕微鏡。
XGTシリーズに高性能機が新たにラインアップ！ WEEE/RoHS･ELV指令､中国版RoHS(電子情報製品汚染制御管理弁法)支援！高感度モード搭載機。
特に小型化が進む電子部品に含まれる有害元素を手間なく簡単に測定したいという市場ニーズに応えるために開発した専用機です。(WEEE/RoHS/ELV指令に対応)
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ニュース＆トピック
- 講習会情報：2012年7月9日 - 7月11日「第18回X線分析講習会」 東京理科大学記念講堂
- 製品照会ビデオ「MESAポータブル」
- カタログ「ハンドヘルド型蛍光X線分析装置 合金・RoHS・ELV用」
- カタログ「ハンドヘルド型蛍光X線分析装置 土壌・鉱物用」