X線分析顕微鏡 XGT-5200シリーズ<販売終了>

概要

XGT-5200シリーズは、販売終了いたしました。新製品XGT-9000はこちら

蛍光X線分析の新たな扉を開く
SDD搭載X線分析顕微鏡 遂に登場!

特長

  • Ø400μmプローブで有害元素管理の為のマッピング分析を実現!
    「Ø1.2mmでは大きい。もっと微小プローブで部品の有害元素マッピングが出来ないか?」というユーザの声にお応えしました。
    IC端子1本を狙い撃ちで分析できます。
  • 基板など複合部品の有害元素管理から微小領域の不良解析まで1台で対応
  • 高分解能・高計数率
    計数率10倍Up! (当社従来機種XGT-5000との比較)
  • 液体窒素不要

機能

■蛍光X線分析と透過X線像の観察が同時に可能
■RoHS/ELV/ハロゲンフリー対応
■世界最小 Ø10μmプローブ搭載
■微小部の膜厚測定(多層膜FPM)、Excelデータ管理シートによるデータの一元管理
 多点分析(連続1000点)
■容易な分析オペレーションと装置メンテナンス

Pbフリーハンダの分析

【X線照射径Ø1.2mm にてPbフリーハンダ基板を測定スペクトル】赤線:XGT-5000(従来機) / 青線:XGT-5200(SDD搭載機)

 

Auワイヤのマッピング分析

光学像

Ø1.2mmでの分析結果 / Ø400μmでの分析結果

 


 

希望販売価格 


製造会社: HORIBA

仕様

測定原理

エネルギー分散型蛍光X線分析

X線照射径

Ø10μm、50μm、100μm、400μm、1.2mm、3mmより仕様選択

測定対象元素

Na~U

試料室環境

大気

サンプルサイズ

300(W)×250(D)×400(H)mm