素材解析(微粒子分析、欠陥解析)
電子顕微鏡と組み合わせて微小領域の異物解析、組成分析に最適です。分析業務全体をわかりやすくサポートするフローチャート形式のナビゲータを搭載。高度な機能を使いやすく−これからのX線分析装置の姿です。...
10μｍの革命！X線を絞り込むX線導管が、観察・分析の世界を根底から変革します。異物分析・故障解析から文化財・貴重品の元素分析、有害元素管理の分析まで1台で幅広く対応。高純度Si半導体検出器搭載。
rf-GD-OES（GDS）分析装置は、Arプラズマにより試料をスパッタリングさせ、スパッタされた原子を原子発光させることで、元素分析を行う、迅速かつ簡単な表面分析装置・深さ方向元素分析装置として、薄膜・めっき・熱処理・表面処理・コーティングなどの研究開発・生産技術・品質管理の分野において、幅広く活用されています。高周波方式グロー放電を採用しているため、非導電性試料でも表面分析が可能です。
