
マーカス型高周波グロー放電発光表面分析装置(GDS) GD-Profiler2
概要
rf-GD-OES(GDS)分析装置は、Arプラズマにより試料をスパッタリングさせ、スパッタされた原子を原子発光させることで、元素分析を行う、迅速かつ簡単な表面分析装置・深さ方向元素分析装置として、薄膜・めっき・熱処理・表面処理・コーティングなどの研究開発・生産技術・品質管理の分野において、幅広く活用されています。高周波方式グロー放電を採用しているため、非導電性試料でも表面分析が可能です。
- 迅速に表面分析がしたい
- たくさんの試料・検体数の表面分析/深さ方向分析がしたい
- 定量的な表面分析がしたい
といった、表面分析/深さ方向分析のお悩み・お困りにお応えすることができます。
特長
- 迅速表面分析が可能!
- 非導電性材料の表面分析も可能!
- パルススパッタ(特許)により低ダメージ・高分解能測定が可能!
- 顕微鏡観察用の前処理・エッチング機としても活用可能!
- バルク分析(固体材料の定量分析)も可能!
次の機関ではrf-GD-OESを使って有償受託分析事業を展開しています。
日鐵テクノリサーチ様:http://www.nstr.co.jp/
環境技研リサーチセンター様 :http://www.get-c.co.jp/
コベルコ科研様:http://www.kobelcokaken.co.jp/
住友金属テクノロジー様:http://www.smt-inc.co.jp/
なお、弊社分析センター:http://www.jp.horiba.com/support/a_center/においても受託分析を行うこともできます。
→GD-Profiler2シリーズのより詳しい情報はこちら
製造会社: HORIBA Scientific




