大面积成像椭偏仪

Large Area mapping Ellipsometers

HORIBA科学事业部提供的大面积成像椭偏仪旨在为平板显示和光伏制造提供薄膜测试解决方案。

大面积成像椭偏仪可实现面板上任意位置的测量。整个系统由DeltaPsi2软件驱动,它为常规薄膜测量提供了保障。DeltaPsi2软件提供了从测试到建模分析,输出报告,以及自动操作的全部功能控制。同时还具有数据导入/导出功能包。

HORIBA椭偏仪能够实现玻璃薄片和柔性基底上薄膜的准确测定。

大面积成像椭偏仪可以满足您的应用需求。

事业部: 科学仪器
产品分类: 椭圆偏振光谱仪
制造商: HORIBA France SAS

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