产品名称 | 带 X 射线荧光的连续颗粒物监测仪 |
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型号 | PX-375 |
测量对象 | 颗粒物 (PM10, PM2.5, TSP) |
测量内容 | 颗粒物的质量浓度和元素浓度 |
通用
流速 | 16.7L/分钟 |
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采样泵 | 线性驱动自由活塞系统、单独安装 |
滤纸带 | PTFE+无纺布 |
点带间隔 | 20/25/50/100mm 可选 |
滤纸带更换周期 | 约1个月(点带间隔为100mm) |
环境操作温度 | 10˚C~30˚C |
相对湿度 | 0~80% RH 无冷凝 |
海拔 | 1000米以下 |
电源 | AC100V~240V ±10%, 50/60Hz±1% |
功率 | 约 400VA |
外形尺寸 | 430mm(W)×550mm(D)×285mm(H) (凸起物除外) |
重量 | 约40kg (采样管和采样头除外) |
数据输出 | CSV 格式文件 (PM2.5质量浓度和元素浓度的小时平均值) |
外部链接 | EthernetTM, USB, RS-232C* (可选) |
*通讯及仪器组成请另行咨询。
质量浓度分析部分
测量方法 | β 射线吸收法 |
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PM10 | PM10 采样探头 |
PM2.5 | VSCCTM (旋风分立方式) |
TSP | TSP 采样探头 |
量程 | 0~200/500/1000μg/m3 |
重复性 | ±2% (相对于用于确认灵敏度的箔片值) |
量程漂移 | ±3% (24小时) |
检测下限 (2σ) | ±4μg/m3 (24小时) |
采样测量时间 | 0.5/1/2/3/4/6/8/12/24 小时 |
元素浓度分析部分
测量方法 | 能量分散型X射线荧光分析法 |
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可检出元素 | 参照可检出元素(表2) 标准可测量元素: S, Ti, Cr, Mn, Ni, Cu, Zn, Pb, Al, Si, K, Ca, V, Fe, As. |
1次性X射线滤纸 | 轻元素、重元素两种类型自动切换 |
管电压 | 15kV, 50kV 自动切换 |
检测器 | SDD (硅漂移检测器) |
观测 | CMOS 摄像头 |
检测下限 (2σ) | EPA推荐方法 IO 3.3 参照检测下限 (示例)(表1) |
测量范围 | 高至测量时间 |
分析时间 | 标准 1000s (16.6 min) 可选 100 / 200 / 500 / 1000 / 2000 / 5000 / 10000s |
X 射线强度校准材料 | NIST SRM 2783, 其它材料(可选) |
X 射线安全功能 | X 射线连锁功能 键控开关 X 射线输出指示灯 |