龙宫样本分析

我们使用一种名为微区X 射线荧光分析的技术分析来自小行星龙宫的样本中元素的类型和数量。  这种测量技术的工作原理是用 X 射线照射材料，并捕获材料被激发出的光，称为“荧光 X 射线”。由于每种元素的荧光 X 射线都是唯一的，因此它揭示了构成材料的元素。  对于岩石、陨石等材料样本，其组成矿物中元素的分布往往不均匀，因此分析结果可能会因测量位置而异。因此，为了更准确地评估样本母体（小行星龙宫）的化学成分，化学分析团队进行了两种类型的分析：（1）“批量分析”和（2）“微量分析”。批量分析需要足够数量的样本来代表整个母体的化学成分。微量分析则仅需微量样本，并分析样本的不同微区，从而补偿样本的异质性。  HORIBA 决定参与该项目是因为其独特的 X 射线分析技术，如上文（2）所述，该技术对于分析有限的样本特别有利。  据信，龙宫含有大量来自有机物的碳，因此该分析将寻找碳以及其他元素的足迹。

在分析如此珍贵的样本时，必须不惜一切代价避免污染样本。通常，为了优化测量条件，化学分析需要对样本进行某种预处理，例如研磨成细粉或添加化学试剂进行测量。但我们不需要对样本进行任何此类预处理，我们的技术通过最大限度地减少样本污染和维持样本条件以实现无损非接触分析。为此，我们还使用了专门为此项目开发的样品池进行分析。分析结束后，我们会对样本进行化学处理和燃烧，以便后续分析，获得更详细的信息，揭示更多关于龙宫的特性和起源的谜团。

参考：微区X 射线荧光分析仪（XRF）