通过一个ASOC-10 USB接口，FelixFL提供一整套数据采集支持，及控制所有系统的硬件配置和操作

PTI FelixGX还配备了PowerFit-10程序—全新的，强大的荧光和磷光寿命分析工具

FelixGX 控制:

• 脉冲光源频率
• 单色仪
• 转折镜的光路切换
• 自动狭缝
• 三栅塔轮
• 激发光源选择
• 发射检测器选择
• 自动偏振器
• 自动化多位样品支架
• Peltier控温装置
• 低温恒温器
• PMT检测器增益控制
• 数字模拟信号切换
• OPO激光器波长扫描
• 控制Tektronix示波器的寿命降低到100 ns
• 外部设备，如停流或滴定附件

FelixGX 采集模式

FelixGX 为光谱和动力学测量提供了多种采集模式:

• 激发和发射光谱扫描 ，用户自定义积分时间，单色仪步进和波长范围
• 时间动力学扫描，用户自定义采集时间和积分时间
• 光谱和时间动力学的偏振扫描，配置电动偏振器，自动测量G因子及偏振器各 方向的样品背景
• 激发发射比率荧光测试
• 多波长检测，配置常用荧光染料数据库或自定义染料波长测量
• 同步激发/发射扫描
• Strobe寿命测试控制
• TCSPC寿命测试控制
• 磷光寿命测试，用户自定义灯的闪烁频率和时间窗口
• 时间分辨发射扫描，用户自定义灯的闪烁频率，信号集成时间窗口，平均每个波长脉冲次数和扫描步进大小
• 时间分辨激发扫描(氙灯或OPO激光器)，用户自定义灯的闪烁频率，信号集成时间窗口，平均每个波长脉冲次数和扫描步进
• 基于磷光时间的扫描，用户自定义长时间持续时间，信号集成时间窗和每点平均脉冲数
• 所有采集模式下PMT增益的软件控制

FelixGX 还可提供特定的高级运算，比如:

• 量子产率计算
• FRET计算
• CIE1931和1976色坐标计算
• 吸光计算
• 单壁碳纳米管结构计算

PowerFit-10 分析工具

并入FelixGX的PowerFit-10分析工具为寿命衰减数据分析提供了强大的分析功能。包括重卷积算法、数据称重(泊松或模拟)的选择、偏移和偏移参数、统计拟合优度参数(卡方、德宾-沃森、运行测试、残差和自相关)以及拟合参数的标准差

PowerFit-10 分析工具

• 1-4指数分析
• 1-4指数Batch分析
• 1-4指数Global分析
• 寿命各向异性衰减曲线
• DAS (寿命衰减相关光谱 )/TRES
• 指数级数法(ESM)寿命分布分析
• 最大熵法(MEM)寿命分布分析
• 胶束动力学分析
• 广延指数分析(Stretched exponential)