使用 MESA-50 对钢涂层进行无损的厚度和成分分析
钢涂层在防止钢腐蚀方面起着重要作用，因此了解涂层有助于改善钢的性能。XRF 是一种用于测量涂层厚度和成分的强大技术，使用 MESA-50 X射线荧光分析仪对钢上的锌镍涂层进行了无损的厚度和成分分析。
MESA-50K
X射线荧光分析仪
为了满足 RoHS/ELV 测试和分析有害元素，HORIBA 提供了 X 射线荧光分析仪 XGT-1000WR 系列。 自 2002 年以来，全球已有 1000 台仪器用于这些应用，以满足客户在不切割样品的情况下分析样品的关键需求。 2012 年，HORIBA发布了直观便捷的 MESA-50 X射线荧光分析仪，在很短的时间内变得非常流行，2013 年，MESA-50 系列增加了一种带有大样品室的新型 MESA-50K, 它配备了无需液氮的精密检测器，As/Sb 分析功能和多层膜FPM 可作为可选功能。
1. 快速
- 硅漂移检测器(SDD) 大幅度减少了测量时间，在高通量的同时提供了更高的灵敏度
2. 小巧
- 便携、体积小、重量轻
- 内部电池供电
3. 简单
- 减少日常维护工作（无需液氮）
- 无需真空泵
- 各种材料测量直观简单
4. 智能
- 英文/日文/中文多语言操作界面
- Excel数据管理工具
5. 安全
- 无需担心 X 射线泄漏
Options & Consumables
| Basic Items | Principle | Energy dispersive X-ray fluorescence spectrometry |
|---|---|---|
| Target application | RoHS, ELV, Halogen Free | |
| Meas. Elements | 13Al - 92U | |
| Sample type | Solid, Liquid, Powder | |
| X-ray generator | X-ray tube | Max 50kV, 0.2mA |
| X-ray irradiation size | 1.2mm, 3mm, 7mm (Automatic switching) | |
| X-ray primary filter | 4 types (Automatic switching) | |
| Detector | Type | SDD (Silicon Drift Detector) |
| Signal processor | Digital pulse processor | |
| Sample chamber | Atmosphere | Air |
| Sample observation | CCD camera | |
| 样品仓尺寸 | 460 x 360 x 150 mm [W x D x H] | |
| Utility | Operation | PC (Windows® 7) |
| Power supply | 100-240V, 50/60Hz | |
| 仪器尺寸 | 590 x 590 x 400 mm [W x D x H] | |
| 重量 | 60 kg | |
| 软件 | 分析功能 | 多层膜FPM法（可选） Sb/As分析（可选） |
＊Windows is a registered trademark of Microsoft Corporation.
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