XGT-9000SL

微区X射线荧光分析仪超大样品仓型

保证安全条件下的大尺寸样品的显微分析

  • 超大样品仓空间 (W x D x H) : 1030 mm x 950 mm x 500 mm
  • X-ray shield complying withX射线辐射防护完全符合JAIMAS0101-2001/ IEC1010-1,保证操作人员免受X射线辐射的
  • 样品扫描区域可达 350 x 350 mm2
  • 具有超高强度的小于15µm的X射线束斑保证元素分布检测的灵敏度和空间分辨率
  • 双检测器配置同时检测荧光X射线和透射X射线
  • 搭载轻元素检测器和He吹扫模块,检测元素范围下探至C元素
事业部: 科学仪器
制造商: HORIBA, Ltd.

在检测速度和适应灵活性上如可提供强大的功能

激发系统

XGT-9000SL可以配置15µm和100µm超高强度X射线探头在显微水平上进行X射线荧光分析,即使针对大样品也是如此。X射线发生器可以提供高达50 kV和1000µA的X射线辐射输出。因此,高性能激发系统为大样品分析提供了终极性能和灵活性。

光学图像

拍摄清晰的图像对于微区 XRF至关重要。XGT-9000SL提供了两种类型的相机,用以捕获样品的整体图像和微观的细节图像。多种照明模式有助于获得清晰的图像,即使是有反射和透明的样品。

样品仓

XGT-9000SL的大样品仓空间(1030 mm x 950 mm x 500 mm)可以容纳各种各样的样品,从微小尺寸的碎片到电路板和绘画等大小的样品。XGT-9000SL配备符合JAIMAS0101-2001/IEC1010-1标准的X射线防护装置,可保证操着者免受X射线照射。XGT-9000SL可以保证安全的情况下对样品进行非破坏性分析。

检测器

XGT-9000SL配备了透射X射线检测器和荧光X射线检测器。透射X射线检测器使用户能够检测样品的内部缺陷和异物。搭载轻元素检测器和He吹扫模块,荧光X射线检测器可以检测从镅到碳的所有元素。

软件套件

当然,XGT-9000SL软件涵盖了所有基本检测功能,如单点分析、多点分析、线分析和Mapping成像等。除了标准软件功能外,还可以向软件套件中添加高级模块,以提供更全面的用户体验。这些模块包括:

  • 用于有标样或无标样的膜厚检测的FPM多层膜检测模块
  • 用于RoHS有害元素筛查的RoHS检测模块
  • 用于无人值守的多任务队列检测模块
  • 用于颗粒异物成分、分级分析和原位分析的颗粒搜寻模块
 
  • 用于将检测数据导入LabSpec 6进行多元分析的LabSpec链接模块
 

应用案例

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基本信息

仪器名称微区X射线荧光分析仪
样品类型固体,液体,颗粒
可检测元素C* – Am(轻元素检测器)
F* – Am (标准检测器)
*上述两种检测器相应地检测C或F需要配置He吹扫模块。
样品仓尺寸1030(W) x 950(D) x 500(H)
最大样品尺寸500(W) x 500(D) x 500(H)
最大样品质量10 kg
光学观测带物镜的两套高分辨率相机
光学设计垂直同轴X射线照射和光学观测系统
样品照明/观测     顶部、底部和侧面照明/明场和暗场

X射线管

功率50 W
电压最大  50 kV
电流最大 1 mA
靶材    Rh

X射线光学系统

探头数量最多 4 个
优化光谱范围的一次X射线滤光片5 个可切换 

检测器

X射线荧光检测器硅漂移检测器 (SDD) 
透射X射线检测器 NaI(Tl)

Mapping 分析

Mapping 区域 350 mm x 350 mm
步长4 mm

操作模式

样品检测环境 局部真空/ 大气环境 / He吹扫模式 (可选)*
*对于轻元素检测器和标准检测器,检测C或F需要配置He吹扫模块。 

外形尺寸 (单位: mm)

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