• Skip to navigation
  • Skip to content
  • 首页
  • 企业信息
  • 投资者相关
  • 公司新闻
  • 出版物
  • CSR
  • 人才招聘
  • 联系我们
HORIBA
Country/Region Selection
中国 | China
Site search
  • 汽车测试系统
  • 过程&环境
  • 医疗
  • 半导体
  • 科学仪器事业部
  • 浏览产品
  • 产品
  • 产品与应用
  • 服务和技术交流
  • 关于我们
  • Optical School
  • 入门手册
Molecular & Microanalysis

分子与微量分析

  • 阴极发光光谱仪(CL)
  • 荧光光谱仪
  • 光致发光
  • 原子力拉曼联用系统
  • SPRi表面等离子体共振成像仪
Surface & Thin Films Characterization

表面分析和薄膜表征

  • AFM
  • 拉曼光谱仪
  • 椭圆偏振光谱仪
  • 射频辉光放电光谱仪(GD-OES)
Particle Characterization

粒度表征

  • 激光衍射
  • 光散射
  • 颗粒分析仪
Elemental Analysis

元素分析

  • 电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)
  • 碳硫氧氮氢分析仪
  • 射频辉光放电光谱仪
  • X射线荧光硫分析仪
  • 样品准备
  • X射线荧光光谱仪

热点仪器

光栅

纳米粒度/Zeta电位分析仪

椭圆偏振光谱仪

CCD探测器

表面等离子体共振成像系统

碳/硫、氧/氮/氢分析仪

单色仪

激光散射粒度仪

辉光放电发射光谱仪

荧光光谱仪

X射线分析显微镜

有害元素荧光X射线检查装置

© 1996-2021 HORIBA, Ltd. All rights reserved.
  • 沪ICP备16035606号-1
  • 期限和条件
  • 隐私权政策
  • 可及性
  • 网站地图
  • 查询