GD-Profiler HR

概要

最好的辉光光谱仪:具有独一无二的性能指标。 HORIBA Jobin Yvon GD-Profiler™ HR 对于解决分析问题,即使是最复杂的基体,提供了最好的分别率和元素数量。60种元素(包括气体元素)可以同时分析。

特征

  • RF射频发生器- 标准配置,符合E级标准,稳定性高,溅射束斑极为平坦,等离子体稳定时间极短,表面信息无任何失真。
  • 脉冲工作模式既可分析常见的涂、镀层和薄膜,也可以很好的分析热传导性能差和热易碎的涂、镀层和薄膜。
  • 多道(同时)型光学系统可全谱覆盖,光谱范围:110nm至800nm,包含远紫外,可分析C, H, O, N, Cl
  • HORIBA Jobin Yvon 的原版离子刻蚀全息光栅保证了仪器有最大光通量,因而有最高的光效率和灵敏度
  • 专利HDD® 检测器可进行快速而高灵敏的检测,动态范围达到10个量级
  • 宽大的样品室方便各类样品的加载
  • 功能强大的QUANTUMT XP软件可以多种格式灵活方便的输出检测报告
  • 激光指点器(CenterLite laser pointer,专利申请中)可用于精确加载样品
  • HORIBA Jobin Yvon独有的单色仪(选配件)可极大的提高仪器的灵活性,可同时测定N+1个元素
  • GD-Profiler HR 1米焦距,分辨率高达14pm,可同时分析60个元素.
  • GD-Profiler HR 可以附加选配1米焦距单色仪,最高分辨率达9pm.

制造: HORIBA Scientific

样本

样本

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