仪器

GD-Profiler

GD-Profiler 2™提供了快速、同时分析所有感兴趣的元素,包括氮、氧、氢和氯。是薄膜描述和工艺研究的理想工具。

 

GD-Profiler HR

HORIBA Jobin Yvon GD-Profiler™ HR 为解决复杂基体中的疑难问题提供了最适宜的方法。60种元素(包括气体元素)可以同时分析。

Plasma Profiling TOFMS™

等离子体分析飞行时间质谱仪-探索全新的信息世界!

等离子体分析飞行时间质谱仪是一个全新的仪器,它结合了GD等离子体的溅射速度和飞行时间质谱的灵敏度。随着目前进行的该课题的欧盟项目的研究阶段,该仪器自2012年开始上市,其设备原型早已在HORIBA Jobin Yvon开始展示。

等离子体飞行时间质谱仪拥有比GD-OES更高的灵敏度并且可提供同位素和分析剖析。

等离子体分析飞行时间质谱仪样品下载