光致发光 (PL)

光致发光光谱用于探测材料的电子结构,是一种非接触、无损伤的测试方法。从原理上讲,光照射到样品上,被样品吸收,产生光激发过程。光激发导致材料跃迁到较高的电子态,然后在驰豫过程后释放能量,(光子)回到较低的能级。该过程中的光辐射或者发光就称为光致发光,即PL。

我们的PL优化系列光谱仪 开发自具有深厚专业技能的光谱核心部门,广泛应用于各种评定、鉴定工作中,包括化合物半导体的外延层成分分析、发光材料的缺陷评价、材料表面评价、集成光学电路的无损评价、杂质的定量分析以及各种激光二极管、从GaN到InP的各种发光二极管的评价工作中。

这些仪器也为超高速装置、量子小尺寸纳米线、量子点以及诸如单壁碳纳米管SWCNTs之类新型材料的发展做出了较大贡献。.

典型的应用包括:

  • 确定带隙

  • 探测杂质能级和缺陷

  • 研究复合机理

  • 确定材料品质        

HJY的光致发光光谱仪可以提供:

  •  亚微米空间分辨率的共焦成像

  • 从紫外到近红外范围内不同的激发波长,从而控制在材料上的穿透深度,进而控制取样体积

  • 使用CCDInGaAs探测器实现从紫外到近红外范围内的光致发光探测

  • 变温样品池,温度在4-300 K范围内可控