光致发光(PL)光谱是一种非接触、无损伤的材料电子结构探测方法。它是一种双光子过程,即和材料的电子态有关的光子吸收-发射过程,在此过程中发射的光就是荧光。拉曼和光致发光联用,可以在同一台仪器上表征材料的振动属性和电子属性

典型的应用包括半导体材料、纳米材料的分析:

  • 确定带隙
  • 探测杂质水平和缺陷
  • 复合机理
  • 材料质量

我们的拉曼-光致发光联用系统具有亚微米空间分辨率的共焦成像能力。激发波长选择范围很广,可以从紫外变化到近红外,因而可以通过控制激光在材料上的穿透深度来控制取样体积。系统可以配备不同的探测器,例如CCD探测器和InGaAs探测器,确保对紫外到1.5微米或更大波长的探测都有很高的灵敏度。变温平台也可以与拉曼-光致发光系统联用,使样品的分析温度低至4.2K

3英寸MQW半导体薄片的光致发光图像,显示发射波长(左图)和峰宽(右图)的分布。