夹杂物鉴别

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在众多的工业领域分析污染物要求使用设备找到微小的夹杂物,随后鉴定其组成。
微区X射线荧光法是分析这类夹杂物的理想工具。凭借X射线穿透特性,使得在样品内部的夹杂物也可以得到分析-- 使用XRF像与X射线透过像,即便是肉眼无法观察到的颗粒物可以被定位并分析。
微区X射线荧光法的亚表面分析能力,通常是使用这种技术的科学家最关注的。与传统使用与这一领域的工具--电镜/能谱分析法相比,微区XRF提供了一种适用分析大面积样品的方法,而不需要切割和与处理样品。不同于电镜/能谱分析法,微区XRF系统可以在大气氛围下使用,这使得分析生物和食物材料变得非常简便。
SLICE 软件可以检索XRF数据和电镜/能谱数据的,为要面对众多夹杂物的分析人员提供了有力的工具。而且数据库中还有数千种金属和玻璃的谱图。

微区XRF的应用领域:

  • 无损鉴别微小的夹杂物
  • 定位亚表面下的异物
  • 分析大面积的样品

    • 电子电器

    • 发动机磨损颗粒

    • 食物及饮料

    • 制作业

    • 病理学

    • 药剂学

    • 半导体

实例

使用XGT 100微米X射线束发现在模压的塑料盘中有异物。谱图显示异物为锌,判断此异物来自工厂使用的机械。

集成芯片铸模时,磷通常作为阻燃剂被添加。与水蒸汽反应会生成磷酸,而溶化的铜电路。在这些图像,肉眼无法观察到芯片失效位置,而在X射线透过像中清晰可见。放大的元素面分布图中高亮显示的磷元素不正常位置表明铜离子被溶化而产生了迁移。

XGT发现工厂生产的树脂中有钛碎片存在,通过与拉曼光谱测量数据的对比,得出结论异物为TiO2