地质/矿物

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微区X射线荧光光谱法非常适合分析无机样品,对痕量元素也有很高的灵敏度(例如,浓度小于100ppm,取决于元素及样品基底)。点分析可以迅速鉴别矿产种类,即便是分析碎石的单个颗粒或微观特征。XRF面扫描可以获得元素面分布图,图像高亮显示矿物相分布,说明了岩石结构,还可以获得相界面处的离子迁移等详细信息。更多关于岩石的内部结构,还可以通过X射线透过像获得。

与通常使用于这一领域的SEM/EDX技术相比,XGT-7000有着如下优点:

  • 操作简易:很短的时间即可获得测量结果

  • 无需样品制备:无需样品抛光,即使是表面粗糙的样品也可获得满意的结果

  • 大样品:特别设计的样品室可以放置35cm x 40cm 大小的样品,元素面分布图像可达10cm x 10cm

微区XRF的应用领域:

  • 矿物鉴定
  • 相界
  • 陨石
  • 江海沉积物
  • 采矿试验
  • 单个颗粒
  • 采矿勘探
  • 岩石结构
  • 宝石

实例

陨石XRF像,矿物结构异构。

 

10微米X射线束获得的矿物X射线荧光像:钛铁矿,斜方辉石和磁铁矿。