XGT-5200WR有害元素X射线荧光分析仪

概要

         400μmX射线光斑,为有害元素的控制提供了高分辨率的扫描分析,适合小到IC集成块单一引脚的分析。同时提供世界最小光斑—10μm (可选配件)。

         SDD检测器极大地提高了分辨率和计数率,且无需使用液氮(LN2

         无需任何样品制备或真空--样品仅需要放置在样品室中,即可在正常大气压力下分析。完全整合的软件可控制样品的移动,获取数据分析(包括定性和定量分析,并生成成分组成图像)。将样品放在样品祥中后,只需几秒钟,借助直观的“point and click”选择分析位置,即开始抓取数据。

         样品观察采用同轴几何呈象,可消除视差,您可以绝对相信,看到的样品即是测量的位置。

         仪器装载了两个X射线管,从而使用户能够简单地切换显微和宏观光束,可适用于一系列实验。这些光管传递的高强度光斑确保了最低的数据获取时间。而光管的单毛细管设计非常适合高强度的元素成像,甚至对于不平整样品同样有效。

         通过自动采样扫描很容易获得XRF面扫描图像,样品下方的第二次信号检测能同时收集X射线透射图像。这项技术可提供额外的结构信息,极有利于对兴趣区域的定位,或了解样本的内部结构。


制造: HORIBA

規格

型号

XGT-5200WR

原理

能量色散型X射线荧光光谱分析法

检测元素

NaU(试样在大气中)

样品形态

塑料、金属、纸、涂料和油漆等的液体(液体试样容器为可选项),生物样品

样品室环境

大气

X射线光斑

10µm50µm100µm400µm1.2mm,3mm

X射线管

50kV/1mA, 铑(Rh)靶材

一次X射线滤光片

Ø1,2mm: 5元素滤光片(Cd/Pb/Cr/Hg/Br) 
Ø1,2mm(
可选): 多重滤光片及 4 元素滤光片(Cd/Cr,Cl/5元素/不带滤光片r) 
Ø100µm:
无滤光片
Ø10µm:
无滤光片

检测器

SDD硅漂移检测器

样品台

100mm×100mm(面扫描最大尺寸),

200mm×200mm(可选)

样品室

400×350×40mm(可定制特殊尺寸)

光学成像

整体图像: 100mm×100mm (标准:400,000象素, 可选: 2百万象素)
细节图像:同轴100倍放大

分析方法

定性: 自动定性功能,背景显示, ROI 颜色分辨, 匹配功能
定量: FPM, 校准曲线, 有害元素 (Cl补偿,厚度补偿,电线补偿)
测量导航: 条件设置, 定量分析l

数据管理(可选)

Excel® 数据管理软件,检测报告输出

电源

AC100, 120, 220, 240V  50/60Hz

重量

280kg

外形尺寸

680(W)833(D)670(H)mm

产品相关图及其它

外形尺寸图 (单位:㎜)

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