Semiconductor Page Heading

计量学

HORIBA 的颗粒检测和去除系统对于提高半导体光刻工艺的产能至关重要。

 

颗粒检测系统

PR-PD2HR

薄膜分析

LEM-CT-670-G50

相关产品

LEM Series
LEM Series

基于实时激光干涉测量的摄像头终点监测

GD-Profiler 2™辉光放电光谱仪
GD-Profiler 2™辉光放电光谱仪

用辉光放电光谱仪去发现一个崭新的信息世界

RP-1
RP-1

光罩/掩膜颗粒去除设备

留言咨询

如您有任何疑问,请在此留下详细需求信息,我们将竭诚为您服务。

* 这些字段为必填项。

Corporate