GD-Profiler 2™

Descripción

El GD-Profiler 2™ proporciona análisis rápido, simultáneo de todos los elementos de interés incluyendo Na, Li, H, (Deuterio posible), O, Cl. Es la herramienta ideal para la caracterización de capas delgadas y los estudios de proceso.

Equipado con una fuente de RF pulsada avanzada, el rango de aplicaciones del GD-Profiler 2™ permite cubrir desde estudios de corrosión, control de proceso de PVD, baterías del Li hasta el control de películas delgadas de uso fotovoltaico, es utilizado tanto en universidades como en centros de investigación.

Características

  • Fuente pulsada de RF y exclusivo doble bombeo diferencial para una forma de los cráteres con resolución óptima.

  • Óptica simultánea de alta resolución con cobertura espectral completa desde 110 hasta 800nm, incluyendo VUV H, (D), O, C, N y Cl.

  • Nueva generación de redes holográficas originales de HORIBA Jobin Yvon con grabación iónica para asegurar el mayor rendimiento luminoso para obtener la máxima sensibilidad.

  • La detección patentada HDD proporciona velocidad y sensibilidad en detección sin compromiso.

  • El compartimiento de la muestra accesible facilita mucho espacio para el cargamento de la muestra.

  • Software de gran alcance QUANTUM™ con generador de informe.

  • CentreLite patentado para el cargamento exacto de la muestra.

  • La opción del monocromador disponible solamente en HORIBA Jobin Yvon proporciona la herramienta perfecta para aumentar la flexibilidad del instrumento agregando la capacidad "n+1".


Producido por HORIBA Scientific

Diagramas

GD-Profiler Schematic

Catálogos

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