GD-Profiler 2™

Le spectromètre d'émission optique à décharge luminescente ouvre de nouveaux horizons d'information

GD-Profiler 2™ permet une analyse rapide et simultanée de tous les éléments d'intérêt, y compris l'azote, l'oxygène, l'hydrogène ou le chlore. Cet outil est idéal pour la caractérisation des films minces et épais et pour les études de processus de dépôt.

Doté d'une source RF qui peut fonctionner en mode pulsé avec acquisition synchrone pour les échantillons fragiles, le GD-Profiler 2™ est adapté à une large gamme d'applications allant des études de corrosion au contrôle du processus de revêtement PVD, du développement de cellules PV en couches minces au contrôle qualité des LED. Il est aussi bien utilisé dans les universités que dans les laboratoires de recherche industrielle.

Segment: Scientific
Division: GDOES
Fabricant: HORIBA France SAS

  • Le générateur RF de classe E est optimisé pour la stabilité et la forme du cratère pour une analyse réelle de la surface.

  • La source peut être pulsée avec une acquisition synchronisée pour des résultats optimaux sur des échantillons fragiles. L'utilisation d'une source RF permet d'analyser des couches et des matériaux conducteurs et non conducteurs classiques et non classiques.

  • L'optique simultanée offre une couverture spectrale complète de 110 à 800 nm, permettant la mesure dans l'UV lointain pour analyser les éléments H, O, C, N et Cl.

  • Les réseaux holographiques à gravure ionique développés par HORIBA assurent un débit de lumière et une résolution très élevés et une efficacité lumineuse optimale pour une sensibilité maximale.
  • La détection HDD brevetée offre une rapidité et une sensibilité de détection sans compromis.

  • Mesure en ligne de la profondeur des cratères et du taux d'érosion avec l'interféromètre breveté intégré (DiP).
  • Le compartiment à échantillons offre un vaste espace pour une mesure d'échantillons de taille et forme variées.

  • Logiciel QUANTUM™ avec générateur de rapports.

  • Pointeur laser CenterLite (breveté) pour le positionnement précis des échantillons.

L'option monochromateur, une exclusivité d'HORIBA, est l'outil idéal pour améliorer la flexibilité de l'instrument en y apportant une capacité « n+1 ».


Combinaison d'une puissante source de décharge luminescente et d'une optique simultanée ultra rapide à haute résolution pour une analyse rapide du profil élémentaire en profondeur des matériaux conducteurs, non conducteurs et hybrides.

Pour les films minces et épais allant du nanomètre à plusieurs centaines de microns avec une résolution en profondeur de l'ordre du nanomètre.

Domaines d'application courants : photovoltaïque, métallurgie, fabrication de LED, études de corrosion, électronique organique et microélectronique, recherche et développement de matériaux, optimisation des processus de dépôt, PVD, CVD, revêtements par plasma, automobile, batteries au lithium, etc.

Ne nécessite pas d'UHV.

Mesure de tous les éléments d'intérêt (y compris H, D, O, Li, Na, C, N, etc.) grâce à des détecteurs à haute dynamique brevetés.

Monochromateur en option avec mode image et détection à haute dynamique pour un enregistrement du spectre complet et une flexibilité totale.

Source RF pulsée pour un fonctionnement en mode RF et RF pulsée avec adaptation automatique

Double pompage différentiel de la source pour la préparation d'échantillons MEB brevetée

Fonction de nettoyage au plasma intégrée

UFS brevetée pour la pulvérisation ultra rapide de matériaux polymères et organiques

DiP breveté – interféromètre intégré pour une mesure directe de la profondeur en ligne

Différents diamètres d'anode et accessoires pour les échantillons de forme irrégulière

Logiciel Windows 10 – Plusieurs copies fournies pour les installations à distance

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