• Référence: RAM4
  • Dates:

    • 26 - 28 mars 2018
    • 4 - 6 juin 2018
    • 13 - 15 novembre 2018

  • Durée: 3 Jours (9h - 17h 30, 21 heures)
  • Lieu: Palaiseau ou Villeneuve d’Ascq, France
  • Comprendre la spectroscopie Raman et les techniques SPM
  • Comprendre les principes de couplage : faire la différence entre les mesures colocalisées et le TERS
  • Apprenez à effectuer des mesures colocalisées

Jour 1

Introduction à la Spectroscopie Raman

  • Principe de base et avantages de la spectroscopie Raman
  • Instrumentation

Séance pratique

  • Optimisation des paramètres : Comment choisir le laser, le réseau, le trou confocal, la puissance
    laser
  • Comment faire une image Raman (2
  • Évaluation des données: curseurs, ajustement CLS, ajustement des pics
  • Cartographie rapide avec SWIFT XS

Introduction à la microscopie à sonde de balayage (SPM)

  • Principe de base
  • Instrumentation
  • Les différents modes (AFM, STM, Tuning Fork) et  les signaux (Topography, Phase, KPFM, C-AFM,
    MFM, PFM)

Séance pratique

  • Pointe et installation des échantillons en mode AFM
  • Topographie en mode AFM
  • Introduction aux autres modes et signaux logiciel
  • Présentation des pointes dédiées et matériel complémentaire

Jour 2

Introduction au TERS

  • Principe et exigences
  • Exemples d’application

Les pointes

  • Présentation des diverses pointes TERS

Démonstration TERS

  • Alignement laser de la pointe
  • Spectre et image  TERS sur un échantillon connu

Travaux pratiques

  •  Hands-on sur des échantillons de démonstration (AFM mode)
  • Alignement laser de la pointe
  •  Spectre et image TERS sur un échantillon inconnu

Jour 3

Alignment

  • Procédure d’alignement de l’unité de couplage

Echantillons des clients: Apportez vos propres échantillons !

Scientifiques, ingénieurs, techniciens, Ph.D. Les participants qui ont déjà acquis de bonnes compétences en spectroscopie Raman ou SPM.