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ここでは、rf-GDによる前処理事例の一つとして、TEM観察前の前処理に応用した例をご紹介します。


ここでは、rf-GDによる前処理事例の一つとして、断面観察に応用した例をご紹介します。試料は、Si系半導体試料の断面試料です。


ここでは、rf-GDによる前処理事例の一つとして、断面観察に応用した例をご紹介します。試料は、Fe上ZnAlめっきの断面試料です。


ここでは、rf-GDによる前処理事例をご紹介するため、SUS304材の前処理前後におけるEBSD像を比較した結果を示します。


ここでは、rf-GDによる前処理事例をご紹介するため、鏡面研磨したステンレス板について、前処理前後を比較した結果を示します。


  • MoSiの発光分析による測定例

  • GaAs/AlGaAsの干渉計による測定例

  • InGaAs/InPの多層膜の干渉計による測定例

  • Nb/Auの干渉計による測定例

  • SiのDeep Trenchの干渉計(DIGILEM)による測定例 (ボッシュプロセス)

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