カタログ・アプリケーションノート・論文・詳細資料をご覧になるにはログインしてください。

ご覧になる資料の製品や分野に関して、HORIBAグループの営業担当よりご連絡させていただくことがございます。あらかじめご了承いただきますようお願い申し上げます。


  • Ferroelectric Thin films characterization by spectroscopic ellipsometry PbZr1-xTixO3 & Tix03 & Ba1-xSrxTiO3

  • Ferroelectric material解析例(膜厚屈折率) 

PDF形式のファイルを参照するには、Adobe Readerが必要です。上のボタンから、アドビシステムズ社のダウンロードページにアクセスすると、無料で入手することが出来ます。