リチウムイオン電池正極材料の炭素を管理する。

◆高精度炭素測定・生産管理

電極材料中の炭素をppbレベルで測定。

炭素・硫黄分析装置
EMIA-920V2

Li電極材料など、試料中の炭素・硫黄を高精度に分析する装置です。
高周波誘導加熱炉方式で初めて燃焼コントロールを実現。分析目的に応じた適切な温度コントロールにより、各種サンプルの高精度分析が可能です。また、プレート電流を2段階に設定することにより、分析の中で、加熱温度条件を変えて分析することが可能。これにより、従来、高周波炉方式では不可能だったサンプル表面に付着した炭素とサンプル内部に含まれる炭素の分別定量にアプローチすることが可能です。

高性能・高速測定・操作性を追求
炭素・硫黄分析装置 EMIA-920V2
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試料を燃焼させて成分ガスを抽出することで、高精度分析を達成します。

【分析精度】
C:0 - 6 %(m/m)(試料質量を減らすことで100mass%まで可能)
S:0 - 1%(m/m)(試料質量を減らすことで100mass%まで可能)

【測定範囲】
C/S:σn-1 <= 0.3ppm(20massppm以下)
C:σn-1 <= 1ppmまたは CV <= 0.5%(20massppm以上)
S:σn-1<= 1ppmまたは CV <= 0.75%(20massppm以上)

 

◆生産管理

内部構造評価、迅速な異物解析に。

NEW

X線分析顕微鏡
XGT-7200

最小径φ10μmまでX線ビームを収束させる独自技術により、光学顕微鏡観察、元素分析、透過X線分析を融合。光学顕微鏡画像を確認しながら、微小部の元素分析、膜厚分析、広域元素分布測定、透過X線画像による内部観察などが行なえます。各種原料や基板、エレクトロニクス材料、医薬食品をはじめとして、様々な分野において異物の検出や元素特定に使用されております。特に、これらの分析をシームレスに行えるので、検出した異物を見失うことなく、解析が可能です。

二次電池材料への応用例
●透過X線像や、広域マッピング像を用いて、セパレータ内部や表面、正極、負極上の金属異物の検出
●金属異物の元素分析
●拡大マッピングによる異物の形状分析
●異物分析結果のレポーティング

小型ラマン顕微鏡 XploRA
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Application

XGTによるフィルタ・フィルム上の異物解析

セパレータや各種フィルム内部および表面の異物は品質問題を引き起こします。XGTを用いれば異物の存在確認から解析まで、連続して分析が可能です。

グラフ

 

導電材料の元素組成分析に。

ICP発光分析装置

ICP発光分析装置

ICP発光分析装置は、材料の分析から水や食品の分析など、あるいは、従来測定が不可能であった塩素などハロゲン分析まで多様な試料を測定可能。HORIBA JOBIN YVON(ジョバンイボン)は1977年、世界で初めてのシーケンシャルICP発光分析装置の販売開始以来、30年以上、数千台におよぶ販売の信頼と実績を誇ります。

 

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