2004年9月28日 - 「HORIBA」全世界ブランド統一へ

詳細


2004年9月17日 - 社外の「分析計測技術」研究者の奨励賞 10月18日授賞式ならびに受賞者とのセッション開催

詳細


2004年8月27日 - 業界一の測定範囲(10nm〜3mm)を実現 1分で、ナノ〜ミリ単位の粒を計測

詳細


2004年8月 5日 - 業界初の冷却方式を採用、約10倍の高感度・短時間測定

詳細


2004年6月10日 - 有機EL、カーボンナノチューブ分析を本格強化

詳細


2004年5月 7日 - 計測技術発展のため「堀場雅夫賞」を創設 =第1回の応募対象はpH測定=

詳細