蛍光&吸光分析



蛍光吸光分光装置 Duetta
蛍光+吸光:IFE自動補正による独自のA-TEEM分光,超高速測定(スキャン速度510,000 nm/min),紫外可視近赤外にわたる蛍光分光測定

HORIBA独自技術「A-TEEM分光法」とは?


A-TEEM分光法とは、吸光度、透過率、励起蛍光マトリクス(A-TEEM:Absorbance-Transmittance Excitation Emission Matrix)を同時に取得する 分光法です。これにより、試料自体の吸光による発光スペクトル形状の歪みを補正できるため、従来の走査型蛍光光度計から収集されたEEMよりも正確な蛍光指紋 測定が実現できます。 さらにA-TEEM分光法と多変量解析を組み合わせることで、HPLCや質量分析計のような従来の分析装置と比較し、容易・高速・安価での成分分析が可能となります。


蛍光・吸光同時測定による自動吸光度補正


内部遮蔽効果 (IFE: Inner Filter Effect):励起光の吸収と蛍光の再吸収による影響→波長により吸光度が異なるため蛍光スペクトルが歪みます。
蛍光・吸光同時測定による自動吸光度補正
一次内部フィルター効果:サンプルにより励起光が吸収される効果
二次内部フィルター効果:サンプルにより蛍光発光が吸収される効果

吸光度で蛍光スペクトルを補正し、本来の発光スペクトルを取得できます。


ラインアップ


新手法!A-TEEM(新三次元蛍光測定)を実現、新たな蛍光指紋測定を提案



アプリケーション


超高速スペクトル測定~蛍光消光測定


インジェクションポートからの
試料注入

試料:2-アミノピリジン(医薬品の前駆体)

ヨウ化カリウム添加

 

2-アミノピリジンは糖鎖の蛍光標識として活用されていますがヨウ化カリウムによって失活します。その過程を0.1秒単位で観察できます。


超高速スペクトル測定~FRET効率測定


タンパク質と蛍光プローブ間で起こるFRET を観測することができました。経時的な分子の状態変化、分子間相互作用、反応過程の追跡をモニターすることが期待されます。


超高速スペクトル測定~三次元蛍光測定(A-TEEM)


10秒でのA-TEEMも可能!

励起波長と発光波長を変化させながら蛍光指紋を超高速で取得できます。


近赤外領域の測定が可能


通常の検出器では確認が困難な800nm以上のスペクトルを容易に確認可能!

 

測定可能波長範囲

  • 励起/吸収スペクトル:250-1000 nm
  • 発光スペクトル:250-1100 nm

標準仕様で紫外から近赤外までの幅広い測定範囲をカバーしています。






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