XRF

蛍光X線分析 (XRF)

蛍光X線分析法は、X線を試料に照射した時に発生する蛍光X線のエネルギーや強度から、物質の成分元素や構成比率を分析する手法です。蛍光X線は元素毎にそのエネルギーが決まっています。また、蛍光X線の強度は試料を構成する元素の量に関係しています。X線はさらに、物質を透過する能力が高く、固体、液体、粉体を非破壊で分析することにも適しています。

X線分析顕微鏡

X線分析顕微鏡

X線分析顕微鏡は、X線ガイドチューブを用い微小領域を分析できる顕微鏡タイプの蛍光X線分析装置です。HORIBA独自のX線集光素子を使った、細くて強度の高いX線ビーム方式を採用し、X線コリメータを使った従来の方式に比べ微小部の高速測定が可能です。

蛍光X線分析装置

蛍光X線分析装置

試料に含まれる元素の定性・定量分析を簡単・迅速に行う事が出来ます。材料の成分管理、異物・不純物などの微量成分検出、めっきなどの膜厚計測などが非破壊で行えます。また、専用のソフトウエアによりRoHSスクリーニングなどの有害元素分析にも対応します。

蛍光X線硫黄分析装置

蛍光X線硫黄分析装置

油中/ガソリン/エタノール中の硫黄分を高感度、高精度に分析する蛍光X線分析装置です。ガソリンなどの低濃度測定から重油などの高濃度の硫黄濃度測定まで、様々な石油商品に含まれる硫黄成分を簡単なオペレーションで短時間に高精度分析します。

カタログ・アプリケーション

蛍光X線分析(XRF)装置の機能と特長

蛍光X線分析(XRF)でできること

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